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可控硅測試儀那些特性的好壞,影響了什么

更新時間:2018-04-26      瀏覽次數:3178
   可控硅測試儀的伏安特性和觸發(fā)特性是晶閘管的zui基本特性,這些特性的好壞,直接影響到器件在整機上的正常使用。因此,可控硅測試儀檢測晶閘管的伏安特性和觸發(fā)特性在晶閘管器件的生產、經銷及使用過程中都是十分重要的。測試以上參數通常由晶閘管伏安特性測試儀和晶閘管門極觸發(fā)特性測試儀完成,測試伏安特性參數時還需另配一臺示波器觀看伏安特性曲線,以上三臺儀器常規(guī)價在7000—10000元以上,且臺數多、占地大、操作不方便。我們根據廣大用戶的需求,現研制出將以上三臺儀器作在一起的晶閘管伏安特性、觸發(fā)特性綜合測試儀。
  
  可控硅測試儀能以毫安級電流控制大功率的機電設備,如果超過此頻率,因元件開關損髦顯著增加,允許通過的平均電流相降低,此時,標稱電流應降級使用。
  
  可控硅測試儀擴展性強,通過選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務。系統(tǒng)采用帶有開爾文感應結構的測試插座,自動補償由于系統(tǒng)內部及測試電纜長度引起的任何壓降,保證測試結果準確可靠。可控硅測試儀面板顯示裝置可及時顯示系統(tǒng)的各種工作狀態(tài)和測試結果,前面板的功能按鍵方便了系統(tǒng)操作。通過功能按鍵,系統(tǒng)可以脫離主控計算機獨立完成多種工作。
  
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